詳細(xì)摘要: SuperViewW1表面輪廓光學(xué)測(cè)量?jī)x微納米級(jí)微觀形貌測(cè)量,它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面...
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1所在地:更新時(shí)間:2023-03-19 在線(xiàn)留言印前設(shè)備 印刷機(jī)械 印后設(shè)備 裝訂設(shè)備 廣告設(shè)備 辦公設(shè)備 印刷機(jī)械配件 其它印刷相關(guān)器材 其它印刷設(shè)備